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技術(shù)(shù)文章

關(guān)(guān)于XRF檢測儀的分析說(shuō)(shuō)明

技術(shù)(shù)文章
  X射線(xiàn)(xiàn)熒光光譜(XRF)具有干擾小、分析速度快、并且可以同時(shí)(shí)進(jìn)(jìn)行多元素分析等優(yōu)(yōu)點(diǎn)(diǎn),是固體物質(zhì)(zhì)成分分析的常規檢測手段,也是一種重要的表面/表層分析方法。XRF分析儀具有快速、無(wú)(wú)損等特點(diǎn)(diǎn),因此被廣泛應用于材料檢測與分析領(lǐng)(lǐng)域。
 
  X射線(xiàn)(xiàn)熒光光譜儀是一種元素分析工具,幾十年來(lái)(lái)一直是檢測實(shí)(shí)驗室的主要分析儀器之一。這種多樣化的無(wú)(wú)損檢測方法只需要很少的樣品制備工作,并且對操作人員的經(jīng)(jīng)驗要求并不是太高,而且,該檢測技術(shù)(shù)還可以快速提供準確的檢測結果。
 
  X射線(xiàn)(xiàn)熒光(XRF)是用高能量X射線(xiàn)(xiàn)或伽瑪射線(xiàn)(xiàn)轟擊材料時(shí)(shí)激發(fā)(fā)出的次級X射線(xiàn)(xiàn)。這種現象被廣泛用于元素分析和化學(xué)(xué)分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學(xué)(xué),考古學(xué)(xué)和藝術(shù)(shù)品,例如油畫(huà)(huà)和壁畫(huà)(huà)。
 
  原理:
 
  當物質(zhì)(zhì)受到入射X射線(xiàn)(xiàn)的輻射時(shí)(shí),其中的原子會(huì )(huì )吸收入射X射線(xiàn)(xiàn)的能量,然后再以熒光的形式重新輻射出來(lái)(lái)。
 
  不同元素對應不同的熒光信號,通過(guò)(guò)測量和分析這些熒光信號的能量和強度,可以準確判斷樣品中所含有的元素。
 
  XRF分析儀的主要構成部分包括X射線(xiàn)(xiàn)發(fā)(fā)生器、樣品臺、熒光探測器和數據處理系統。
 
  X射線(xiàn)(xiàn)發(fā)(fā)生器負責產(chǎn)(chǎn)生入射X射線(xiàn)(xiàn),樣品臺用于放置待測樣品,熒光探測器則用于測量熒光發(fā)(fā)射信號,數據處理系統負責對測量結果進(jìn)(jìn)行分析和處理。
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